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Lateral Laser Fault Injection: Applus+ desarrolla una nueva variante de uno de los ataques de hardware más efectivos contra chips seguros

27/02/2020
    Como parte de nuestras actividades de I+D, nuestro equipo ha conceptualizado una nueva variante del ataque LFI. Esta nueva técnica utiliza el lateral del chip como superficie de ataque para superar algunas limitaciones actuales del LFI.
     
    Los experimentos realizados en el laboratorio de ciberseguridad de Barcelona han demostrado la efectividad de esta nueva técnica de ataque, Lateral Laser Fault Injection (LLFI), especialmente cuando las nuevas técnicas de encapsulado 3D de los chips o las contramedidas físicas dificultan el acceso por la parte posterior del chip.
     
    Gracias a la investigación realizada por Applus+ Laboratories, la nueva técnica de ataque LLFI añade una nueva dimension que los evaluadores de seguidad deben considerar a la hora de realizar analisis de vulnerabilidades durante el proceso de certificación de un chip. 
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