Applus+ Laboratories participará en la conferencia sobre diagnosis y tolerancia de fallos en criptografía (FDTC - Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography) que se celebrarà el próximo 24 de agosto en Atlanta, Estados Unidos. Durante la conferencia, los expertos de Applus+ presentarán una nueva técnica ataque laser sobre circuitos integrados seguros (secure ICs), Lateral Laser Fault Injection (LLFI).
Applus+ Laboratories participa en los principales foros y grupos de trabajo del sector de la seguridad. El objetivo de estos grupos es desarrollar métodos de evaluación fiable que integren las técnicas de ataque de última generación. Su trabajo ayuda a la industria a desarrollar contramedidas ante nuevas técnicas de ataque y mejorar la seguridad para el usuario final.
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